Instytut Łączności – Państwowy Instytut Badawczy contains 2 238 digital objects
Search for: [Title = "Reliability of MIS transistors with plasma deposited Al2O3 gate dielectric film, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1"]
Number of results: 1
Szmidt, Jan Werbowy, Aleksander Dusiński, Emil Zdunek, Krzysztof
2001, nr 1
artykuł
