@misc{Przewłocki_Henryk_M._Investigation,
 author={Przewłocki, Henryk M. and Piskorski, Krzysztof},
 howpublished={online},
 publisher={Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa},
 language={ang},
 title={Investigation of barrier height distributions over the gate area of Al-SiO2-Si structures, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3},
 type={artykuł},
 keywords={MOS system, barrier height, effective contact potential difference},
}