@misc{Walczak_Jakub_Electron,
 author={Walczak, Jakub and Majkusiak, Bogdan},
 howpublished={online},
 publisher={Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa},
 language={ang},
 title={Electron mobility and drain current in strained-Si MOSFET, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3},
 type={artykuł},
 keywords={electron mobility, strained-Si MOSFET},
}