@misc{Przewłocki_Henryk_M._Variability,
 author={Przewłocki, Henryk M. and Massoud, Hisham Z. and Kudła, Andrzej and Brzezińska, Danuta},
 howpublished={online},
 publisher={Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa},
 language={ang},
 title={Variability of the local ΦMS values over the gate area of MOS devices, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1},
 type={artykuł},
 keywords={photoelectric measurements, mechanical stress, MOS structure, electrical parameters},
}