@misc{Grabiec_Piotr_Diagnostics,
 author={Grabiec, Piotr and Czarnecki, Piotr and Janus, Paweł and Gotszalk, Teodor and Rangelow, Ivo W. and Radojewski, Jacek and Szeloch, Roman F. and Marendziak, Andrzej},
 howpublished={online},
 publisher={Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa},
 language={ang},
 title={Diagnostics of micro- and nanostructure using the scanning probe microscopy, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1},
 type={artykuł},
 keywords={nanofabrication, scannig probe microscopy, microsystem},
}