@misc{Przewłocki_Henryk_M._Effects,
 author={Przewłocki, Henryk M. and Rzodkiewicz, Witold and Kudła, Andrzej and Sawicki, Zbigniew},
 howpublished={online},
 publisher={Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa},
 language={ang},
 title={Effects of stress annealing on the electrical and the optical properties of MOS devices, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1},
 type={artykuł},
 keywords={MOS, Si-SiO2 system, refractive index, electrical parameters, stress},
}