@misc{Tomaszewski_Daniel_Semi-automatic,
 author={Tomaszewski, Daniel and Kociubiński, Andrzej and Zając, Jerzy and Wójcik, Janusz},
 howpublished={online},
 publisher={Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa},
 language={ang},
 title={Semi-automatic test system for characterization of ASIC/MPWS, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1},
 type={artykuł},
 keywords={automatic testing, diagnostics of technology, multi-project wafers},
}