@misc{Szmidt_Jan_Reliability,
 author={Szmidt, Jan and Werbowy, Aleksander and Dusiński, Emil and Zdunek, Krzysztof},
 howpublished={online},
 publisher={Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa},
 language={ang},
 title={Reliability of MIS transistors with plasma deposited Al2O3 gate dielectric film, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1},
 type={artykuł},
 keywords={reliability, MIS transistor, Al2O3 films, RPP method},
}