@misc{Balestra_Francis_Reliability,
 author={Balestra, Francis},
 howpublished={online},
 publisher={Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa},
 language={ang},
 type={artykuł},
 title={Reliability of deep submicron MOSFETs, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1},
 keywords={reliability, bulk MOSFETs, deep submicrontransistors, SOI devices},
}