Wyszukiwanie zaawansowane ?

Obiekt

Pobierz

Tytuł: Electrical characterization of ISFETs, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3

Autor:

Tomaszewski, Daniel ; Jaroszewicz, Bohdan ; Pijanowska, Dorota G. ; Grabiec, Piotr ; Zaborowski, Michał ; Yang, Chia-Ming

Data wydania:

2007, nr 3

Typ zasobu:

artykuł

Opis:

Methodology of electrical characterization of ISFETs has been described. It is based on a three-stage approach. First, electrical measurements of ISFET-like MOSFETs and extraction of basic parameters of the MOSFET compact model are performed. Next, mapping of the ISFET channel conductances and a number of other characteristic parameters is carried out using a semi-automatic testing setup. Finally, ISFET sensitivity to solution pH is evaluated. The methodology is applied to characterize ISFETs fabricated in the Institute of Electron Technology (IET).

Wydawca:

Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:bc.itl.waw.pl:287

DOI:

10.26636/jtit.2007.3.830

ISSN:

1509-4553

eISSN:

1899-8852

Źródło:

Journal of Telecommunications and Information Technology

Język:

ang

Prawa:

Biblioteka Naukowa Instytutu Łączności

Temat i słowa kluczowe:

characterization CMOS I-V characteristics ISFET electrical measurements parameters extraction

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

25 lut 2026

Data dodania obiektu:

27 sty 2010

Liczba wyświetleń treści obiektu:

2 358

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://bc.itl.waw.pl/publication/330

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Nazwa wydania Data
Tomaszewski, Daniel; Yang, Chia-Ming; Jaroszewicz, Bohdan; Zaborowski, Michał; Grabiec, Piotr; Pijanowska, Dorota G., Electrical characterization of ISFETs, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3 25 lut 2026

Obiekty Podobne
Si-Based Electrodes for Potentiometric Measurements of Aqueous Solutions, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2009, nr 4

Tomaszewski, Daniel Jaroszewicz, Bohdan Grabiec, Piotr Zaborowski, Michał

2009, nr 4
artykuł
TSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Tomaszewski, Daniel Jaroszewicz, Bohdan Grabiec, Piotr Marczewski, Jacek Barański, Mateusz Domański, Krzysztof Kucharski, Krzysztof Kucewicz, Wojciech Grodner, Mirosław Sapor, Maria Kociubiński, Andrzej Niemiec, Halina

2005, nr 1
artykuł
Piezoresistive sensors for atomic force microscopy – numerical simulations by means of virtual wafer fab, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

Jakubowski, Andrzej Tomaszewski, Daniel Grabiec, Piotr Rangelow, Ivo W. Domański, Krzysztof Barth, Wolfgang Dębski, Tomasz

2001, nr 1
artykuł
Characterization of SOI fabrication process using gated-diode measurements and TEM studies, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2000, nr 3,4

Jakubowski, Andrzej Tomaszewski, Daniel Łukasiak, Lidia Gibki, Jan Ratajczak, Jacek Kątcki, Jerzy

2000, nr 3,4
artykuł
Technology of MISFET with SiO2/BaTiO3 System as a Gate Insulator, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2009, nr 4

Szmidt, Jan Firek, Piotr

2009, nr 4
artykuł
Variability of the local ΦMS values over the gate area of MOS devices, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Przewłocki, Henryk M. Massoud, Hisham Z. Kudła, Andrzej Brzezińska, Danuta

2005, nr 1
artykuł
A versatile tool for extraction of MOSFETs parameters, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Tomaszewski, Daniel Grabiec, Piotr Marczewski, Jacek Domański, Krzysztof Kucharski, Krzysztof Kociubiński, Andrzej

2005, nr 1
artykuł
Multi-Domain Modeling and Simulations of the Heterogeneous Systems, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2010, nr 1

Bieniek, Tomasz Tomaszewski, Daniel Grabiec, Piotr Janus, Paweł Kociubiński, Andrzej Malinowski, Arkadiusz Ekwińska, Magdalena Janczyk, Grzegorz Szynka, Jerzy

2010, nr 1
artykuł
Więcej
×

Cytowanie

Styl cytowania:

Dane kontaktowe

Adres

Instytut Łączności – Państwowy Instytut Badawczy ul. Szachowa 1 04-894 Warszawa

Telefon

(+48) 5128 696

E-Mail

biblioteka@il-pib.pl

Odwiedź nas!

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji