Tomaszewski, Daniel ; Kociubiński, Andrzej ; Zając, Jerzy ; Wójcik, Janusz
Temat i słowa kluczowe:automatic testing ; diagnostics of technology ; multi-project wafers
Opis: Wydawca:Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa
Data wydania: Typ zasobu: Format: DOI: ISSN: eISSN: Źródło:Journal of Telecommunications and Information Technology
Język: Prawa: