Jakubowski, Andrzej ; Grabiec, Piotr ; Zaborowski, Michał ; Rangelow, Ivo W. ; Barth, Wolfgang ; Dębski, Tomasz ; Hudek, Peter ; Biehl, Steffen ; Studzińska, Krystyna ; Kostic, Ivan ; Mitura, Stanisław
Subject and Keywords:field emission display ; field emission array ; self- alignment technolog ; diamond-like-carbon layers emission ; silicon micromachining
Description: Publisher:Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa
Date: Resource Type: Format: Resource Identifier:ISSN 1509-4553, on-line: ISSN 1899-8852
DOI: ISSN: eISSN: Source:Journal of Telecommunications and Information Technology
Language: Rights Management: