Jakubowski, Andrzej ; Grabiec, Piotr ; Zaborowski, Michał ; Rangelow, Ivo W. ; Barth, Wolfgang ; Dębski, Tomasz ; Hudek, Peter ; Biehl, Steffen ; Studzińska, Krystyna ; Kostic, Ivan ; Mitura, Stanisław
Temat i słowa kluczowe:field emission display ; field emission array ; self- alignment technolog ; diamond-like-carbon layers emission ; silicon micromachining
Opis: Wydawca:Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa
Data wydania: Typ zasobu: Format: Identyfikator zasobu:ISSN 1509-4553, on-line: ISSN 1899-8852
DOI: ISSN: eISSN: Źródło:Journal of Telecommunications and Information Technology
Język: Prawa: