Tytuł:

Zasady projektowania urządzeń mikroprocesorowych z rezydentnymi testami, na przykładzie przystawki PPWA do redukcji danych pomiarowych. Referaty Problemowe, 1985, zeszyt 67

Autor:

Laube, Jerzy

Opis:

W referacie przedstawiono, na konkretnym przykładzie, zasady projektowania systemów mikroprocesorowych z rezydentnymi testami. Testy takie umożliwiają proste uruchomianie oraz serwis systemów mikroprocesorowych, zwłaszcza małych, ze stałym programem zawartym w pamięci ROM. Testy można podzielić na trzy grupy funkcjonalne: test wstępny, wykonujący się zawsze po włączeniu zasilania, testy „objawowe” i testy „sygnaturowe”.

Wydawca:

Instytut Łączności, Warszawa

Data wydania:

1985, zeszyt 67

Typ zasobu:

artykuł

Format:

application/pdf

Język:

pol

Prawa:

Biblioteka Naukowa Instytutu Łączności