Zasady projektowania urządzeń mikroprocesorowych z rezydentnymi testami, na przykładzie przystawki PPWA do redukcji danych pomiarowych. Referaty Problemowe, 1985, zeszyt 67
Laube, Jerzy
W referacie przedstawiono, na konkretnym przykładzie, zasady projektowania systemów mikroprocesorowych z rezydentnymi testami. Testy takie umożliwiają proste uruchomianie oraz serwis systemów mikroprocesorowych, zwłaszcza małych, ze stałym programem zawartym w pamięci ROM. Testy można podzielić na trzy grupy funkcjonalne: test wstępny, wykonujący się zawsze po włączeniu zasilania, testy „objawowe” i testy „sygnaturowe”.
Instytut Łączności, Warszawa
1985, zeszyt 67
artykuł
application/pdf
pol
Biblioteka Naukowa Instytutu Łączności
This publication is unavailable to your account. If you have more privileged account please try to use it or contact with the institution connected to this digital library.
Citation style: Chicago ISO690