This publication is unavailable to your account. If you have more privileged account please try to use it or contact with the institution connected to this digital library.
Laube, Jerzy
1985, zeszyt 67
artykuł
W referacie przedstawiono, na konkretnym przykładzie, zasady projektowania systemów mikroprocesorowych z rezydentnymi testami. Testy takie umożliwiają proste uruchomianie oraz serwis systemów mikroprocesorowych, zwłaszcza małych, ze stałym programem zawartym w pamięci ROM. Testy można podzielić na trzy grupy funkcjonalne: test wstępny, wykonujący się zawsze po włączeniu zasilania, testy „objawowe” i testy „sygnaturowe”.
Instytut Łączności, Warszawa
application/pdf
oai:bc.itl.waw.pl:953
pol
Biblioteka Naukowa Instytutu Łączności
Oct 4, 2011
202
https://bc.itl.waw.pl/publication/1078
RDF
OAI-PMH
Citation style: Chicago ISO690
This page uses 'cookies'. More information I understand