Głuszko, Grzegorz ; Łukasiak, Lidia ; Gottlob, Heinrich ; Lemme, Max ; Szostak, Sławomir
Subject and Keywords:interface traps ; electrical characterization ; charge-pumping ; SOI MOSFET
Description: Publisher:Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa
Date: Resource Type: Format: Resource Identifier:ISSN 1509-4553, on-line: ISSN 1899-8852
Source:Journal of Telecommunications and Information Technology
Language: Rights Management: