Yumisaki, Akihiro ; Sadachika, Norio ; Mattausch, Hans Jurgen ; Miura-Mattausch, Mitiko ; Koide, Tetsushi ; Johguchi, Koh ; Kaya, Akihiro
Temat i słowa kluczowe:silicon ; potential at channel surface ; microscopic ; macroscopic ; within wafer ; field-effect transistor ; fabrication inaccuracy ; compact model
Opis: Wydawca:Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa
Data wydania: Typ zasobu: Format: Identyfikator zasobu:ISSN 1509-4553, on-line: ISSN 1899-8852
DOI: ISSN: eISSN: Źródło:Journal of Telecommunications and Information Technology
Język: Prawa: