Przewłocki, Henryk M. ; Massoud, Hisham Z. ; Kudła, Andrzej ; Brzezińska, Danuta
Subject and Keywords:photoelectric measurements ; mechanical stress ; MOS structure ; electrical parameters
Description: Publisher:Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa
Date: Resource Type: Format: DOI: ISSN: eISSN: Source:Journal of Telecommunications and Information Technology
Language: Rights Management: