Tomaszewski, Daniel ; Kociubiński, Andrzej ; Zając, Jerzy ; Wójcik, Janusz
Subject and Keywords:automatic testing ; diagnostics of technology ; multi-project wafers
Description: Publisher:Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa
Date: Resource Type: Format: DOI: ISSN: eISSN: Source:Journal of Telecommunications and Information Technology
Language: Rights Management: