Nie masz uprawnień do wyświetlenia tego obiektu. Aby poprosić o dostęp do niego, wypełnij poniższe pola.
Laube, Jerzy
1985, zeszyt 67
artykuł
W referacie przedstawiono, na konkretnym przykładzie, zasady projektowania systemów mikroprocesorowych z rezydentnymi testami. Testy takie umożliwiają proste uruchomianie oraz serwis systemów mikroprocesorowych, zwłaszcza małych, ze stałym programem zawartym w pamięci ROM. Testy można podzielić na trzy grupy funkcjonalne: test wstępny, wykonujący się zawsze po włączeniu zasilania, testy „objawowe” i testy „sygnaturowe”.
Instytut Łączności, Warszawa
application/pdf
oai:bc.itl.waw.pl:953
pol
Biblioteka Naukowa Instytutu Łączności
4 paź 2011
200
https://bc.itl.waw.pl/publication/1078
RDF
OAI-PMH
Styl cytowania: Chicago ISO690
Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji Rozumiem