Wyszukiwanie zaawansowane ?

Obiekt

Pobierz

Tytuł: Diagnostics of micro- and nanostructure using the scanning probe microscopy, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Autor:

Grabiec, Piotr ; Czarnecki, Piotr ; Janus, Paweł ; Gotszalk, Teodor ; Rangelow, Ivo W. ; Radojewski, Jacek ; Szeloch, Roman F. ; Marendziak, Andrzej

Data wydania:

2005, nr 1

Typ zasobu:

artykuł

Opis:

In this paper we summarize the results of our research concerning the diagnostics of micro- and nanostructure with scanning probe microscopy (SPM). We describe the experiments performed with one of the scanning probe microscopy techniques enabling also insulating surfaces to be investigated, i.e., atomic force microscopy (AFM). We present the results of topography measurements using both contact and non-contact AFM modes, investigations of the friction forces that appear between the microtip and the surface, and experiments connected with the thermal behaviour of integrated circuits, carried out with the local resolution of 20 nm.

Wydawca:

Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:bc.itl.waw.pl:363

DOI:

10.26636/jtit.2005.1.293

ISSN:

1509-4553

eISSN:

1899-8852

Źródło:

Journal of Telecommunications and Information Technology

Język:

ang

Prawa:

Biblioteka Naukowa Instytutu Łączności

Temat i słowa kluczowe:

nanofabrication scannig probe microscopy microsystem

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

11 cze 2024

Data dodania obiektu:

26 lut 2010

Liczba wyświetleń treści obiektu:

473

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://bc.itl.waw.pl/publication/413

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Nazwa wydania Data
Gotszalk, Teodor; Janus, Paweł; Marendziak, Andrzej; Czarnecki, Piotr; Radojewski, Jacek; Szeloch, Roman F.; Grabiec, Piotr; Rangelow, Ivo W., Diagnostics of micro- and nanostructure using the scanning probe microscopy, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1 11 cze 2024

Obiekty Podobne
Adsorption properties of porous silicon, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

Beck, Romuald B. Grabiec, Piotr Gotszalk, Teodor Rangelow, Ivo W. Domański, Krzysztof Dębski, Tomasz

2001, nr 1
artykuł
Application of scanning shear-force microscope for fabrication of nanostructures, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Sikora, Andrzej Gotszalk, Teodor Rangelow, Ivo W. Sankowska, Anna

2005, nr 1
artykuł
Piezoresistive sensors for atomic force microscopy – numerical simulations by means of virtual wafer fab, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

Jakubowski, Andrzej Tomaszewski, Daniel Grabiec, Piotr Rangelow, Ivo W. Domański, Krzysztof Barth, Wolfgang Dębski, Tomasz

2001, nr 1
artykuł
Multi-Domain Modeling and Simulations of the Heterogeneous Systems, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2010, nr 1

Bieniek, Tomasz Tomaszewski, Daniel Grabiec, Piotr Janus, Paweł Kociubiński, Andrzej Malinowski, Arkadiusz Ekwińska, Magdalena Janczyk, Grzegorz Szynka, Jerzy

2010, nr 1
artykuł
Fabrication and properties of the field emission array with self-alignment gate electrode, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

Jakubowski, Andrzej Grabiec, Piotr Zaborowski, Michał Rangelow, Ivo W. Barth, Wolfgang Dębski, Tomasz Hudek, Peter Biehl, Steffen Studzińska, Krystyna Kostic, Ivan Mitura, Stanisław

2001, nr 1
artykuł
Modeling, Simulation and Calibration of Silicon Wet Etching, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2009, nr 4

Bieniek, Tomasz Janus, Paweł Kociubiński, Andrzej Duk, Mariusz

2009, nr 4
artykuł
Si-Based Electrodes for Potentiometric Measurements of Aqueous Solutions, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2009, nr 4

Tomaszewski, Daniel Jaroszewicz, Bohdan Grabiec, Piotr Zaborowski, Michał

2009, nr 4
artykuł
A versatile tool for extraction of MOSFETs parameters, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Tomaszewski, Daniel Grabiec, Piotr Marczewski, Jacek Domański, Krzysztof Kucharski, Krzysztof Kociubiński, Andrzej

2005, nr 1
artykuł
Więcej
×

Cytowanie

Styl cytowania:

Dane kontaktowe

Adres

Instytut Łączności – Państwowy Instytut Badawczy ul. Szachowa 1 04-894 Warszawa

Telefon

(+48) 5128 696

E-Mail

biblioteka@il-pib.pl

Odwiedź nas!

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji