Wyszukiwanie zaawansowane ?

Obiekt

Pobierz

Tytuł: Application of scanning shear-force microscope for fabrication of nanostructures, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Autor:

Sikora, Andrzej ; Gotszalk, Teodor ; Rangelow, Ivo W. ; Sankowska, Anna

Data wydania:

2005, nr 1

Typ zasobu:

artykuł

Opis:

In view of the rapid growth of interest in AFM technique in surface property investigation and local surface modification we describe here an AFM microscope with optical tip oscillation detection. The modular shear-force/tunneling microscope for surface topography measurement and nanoanodisation is described. The measurement instrument presented here is based on the fiber Fabry-Perot interferometer for the measurement of the conductive microtip oscillation that is used as nano e-beam for local surface anodisation. An advantage of this system is that quatitative measurements of tip vibration amplitude are easily performed.

Wydawca:

Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:bc.itl.waw.pl:368

DOI:

10.26636/jtit.2005.1.288

ISSN:

1509-4553

eISSN:

1899-8852

Źródło:

Journal of Telecommunications and Information Technology

Język:

ang

Prawa:

Biblioteka Naukowa Instytutu Łączności

Temat i słowa kluczowe:

AFM shear-force microscopy nanostructures fabrication

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

12 cze 2024

Data dodania obiektu:

1 mar 2010

Liczba wyświetleń treści obiektu:

186

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://bc.itl.waw.pl/publication/418

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Nazwa wydania Data
Sikora, Andrzej; Gotszalk, Teodor; Sankowska, Anna; Rangelow, Ivo W., Application of scanning shear-force microscope for fabrication of nanostructures, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1 12 cze 2024

Obiekty Podobne
Adsorption properties of porous silicon, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

Beck, Romuald B. Grabiec, Piotr Gotszalk, Teodor Rangelow, Ivo W. Domański, Krzysztof Dębski, Tomasz

2001, nr 1
artykuł
Diagnostics of micro- and nanostructure using the scanning probe microscopy, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Grabiec, Piotr Czarnecki, Piotr Janus, Paweł Gotszalk, Teodor Rangelow, Ivo W. Radojewski, Jacek Szeloch, Roman F. Marendziak, Andrzej

2005, nr 1
artykuł
Lateral Force Calibration Method Used for Calibration of Atomic Force Microscope, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2009, nr 4

Ekwińska, Magdalena Rymuza, Zygmunt

2009, nr 4
artykuł
Correlation between electric parameters of carbon layers and their capacity for field emission, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3

Szmidt, Jan Czerwosz, Elżbieta Gronau, Ryszard

2007, nr 3
artykuł
Piezoresistive sensors for atomic force microscopy – numerical simulations by means of virtual wafer fab, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

Jakubowski, Andrzej Tomaszewski, Daniel Grabiec, Piotr Rangelow, Ivo W. Domański, Krzysztof Barth, Wolfgang Dębski, Tomasz

2001, nr 1
artykuł
ASimJava: a Java-based library for distributed simulation, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2004, nr 3

Niewiadomska-Szynkiewicz, Ewa Sikora, Andrzej

2004, nr 3
artykuł
Parallel and Distributed Simulation of Ad Hoc Networks, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2009, nr 3

Niewiadomska-Szynkiewicz, Ewa Sikora, Andrzej

2009, nr 3
artykuł
FR/ASimJava: a federated approach to parallel and distributed network simulation in practice, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2006, nr 4

Niewiadomska-Szynkiewicz, Ewa Sikora, Andrzej

2006, nr 4
artykuł
Więcej
×

Cytowanie

Styl cytowania:

Dane kontaktowe

Adres

Instytut Łączności – Państwowy Instytut Badawczy ul. Szachowa 1 04-894 Warszawa

Telefon

(+48) 5128 696

E-Mail

biblioteka@il-pib.pl

Odwiedź nas!

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji