Obiekt

Tytuł: High-field current transport and charge trapping in buried oxide of SOI materials under high-field electron injection, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2004, nr 1

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

10 mar 2010

Data dodania obiektu:

10 mar 2010

Liczba wyświetleń treści obiektu:

288

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://bc.itl.waw.pl/publication/572

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji