Obiekt

Tytuł: Charging Phenomena at the Interface Between High-k Dielectrics and SiOx Interlayers, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2010, nr 1

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

28 sie 2024

Data dodania obiektu:

4 paź 2010

Liczba wyświetleń treści obiektu:

161

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://bc.itl.waw.pl/publication/848

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Obiekty Podobne

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji