Instytut Łączności – Państwowy Instytut Badawczy udostępnia 2 262 obiektów cyfrowych
Obiekt
Tytuł: Challenges in scaling of CMOS devices towards 65 nm node, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1
Autor:
Jurczak, Małgorzata ; Rotschild, Aude ; Severi, Simone ; Keersgieter de, An ; Henson, Kirklen ; Mertens, Sofie ; Rooyackers, Rita ; Pollentier, Ivan ; Scaekers, Marc ; Lindsay, Richard ; Lauwers, Anne ; Augendre, Emmanuel ; Veloso, Anabela
Data wydania:
Typ zasobu:
Opis:
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa
Format:
Identyfikator zasobu:
DOI:
ISSN:
eISSN:
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Język:
Prawa:
Biblioteka Naukowa Instytutu Łączności
Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:
- Biblioteka Cyfrowa Instytutu Łączności
- Biblioteka Cyfrowa Instytutu Łączności > Wydawnictwa Instytutu Łączności
- Biblioteka Cyfrowa Instytutu Łączności > Wydawnictwa Instytutu Łączności > Wydawnictwa bieżące > Journal of Telecommunications and Information Technology (JTIT)
Data ostatniej modyfikacji:
11 cze 2024
Data dodania obiektu:
26 lut 2010
Liczba wyświetleń treści obiektu:
1 645
Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:
https://bc.itl.waw.pl/publication/407
Wyświetl opis w formacie RDF:
Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:
Obiekty Podobne
Jakubowski, Andrzej Beck, Romuald B. Ćwil, Michał Konarski, Piotr Bieniek, Tomasz Schmeißer, Dieter Hoffmann, Patrick
Jakubowski, Andrzej Beck, Romuald B. Ćwil, Michał Głuszko, Grzegorz Konarski, Piotr Bieniek, Tomasz
Schwierz, Frank Liou, Juin J.
Ruzyllo, Jerzy
Jakubowski, Andrzej Beck, Romuald B.
Hellström, Per-Erik Haartman von, Martin Östling, Mikael Zhang, Zhen Hallstedt, Julius Zhang, Shili Malm, Bengt Gunnar
