Wyszukiwanie zaawansowane ?

Obiekt

Pobierz

Tytuł: Simple method for characterization of photonic crystal fibers, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2

Autor:

Grabiec, Waldemar ; Pałka, Norbert ; Szustakowski, Mieczysław

Data wydania:

2007, nr 2

Typ zasobu:

artykuł

Opis:

We report on our experimental characterization of index-guiding photonic crystal fibers (PCF) from their far field intensity distribution. The algorithm presented below makes it possible to determine the geometrical parameters of the PCF (core diameter, air hole spacing and air hole diameter) from its far field pattern. We obtained good agreement with the manufacturer’s data for all fibers tested.

Wydawca:

Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:bc.itl.waw.pl:274

DOI:

10.26636/jtit.2007.2.816

ISSN:

1509-4553

eISSN:

1899-8852

Źródło:

Journal of Telecommunications and Information Technology

Język:

ang

Prawa:

Biblioteka Naukowa Instytutu Łączności

Temat i słowa kluczowe:

far field distribution photonic crystal fibers characterization

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

24 lip 2024

Data dodania obiektu:

22 sty 2010

Liczba wyświetleń treści obiektu:

499

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://bc.itl.waw.pl/publication/316

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Nazwa wydania Data
Szustakowski, Mieczysław; Pałka, Norbert; Grabiec, Waldemar, Simple method for characterization of photonic crystal fibers, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2 24 lip 2024

Obiekty Podobne
Characterization of SOI fabrication process using gated-diode measurements and TEM studies, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2000, nr 3,4

Jakubowski, Andrzej Tomaszewski, Daniel Łukasiak, Lidia Gibki, Jan Ratajczak, Jacek Kątcki, Jerzy

2000, nr 3,4
artykuł
Piezoresistive sensors for atomic force microscopy – numerical simulations by means of virtual wafer fab, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

Jakubowski, Andrzej Tomaszewski, Daniel Grabiec, Piotr Rangelow, Ivo W. Domański, Krzysztof Barth, Wolfgang Dębski, Tomasz

2001, nr 1
artykuł
Frequency Offset Compensation for OFDM Systems Using a Combined Autocorrelation and Wiener Filtering Scheme, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2010, nr 1

Khanzada, Tariq Jamil Omar, Abbas Ali, Ali Ramadan

2010, nr 1
artykuł
Electrical characterization of ISFETs, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3

Tomaszewski, Daniel Jaroszewicz, Bohdan Pijanowska, Dorota G. Grabiec, Piotr Zaborowski, Michał Yang, Chia-Ming

2007, nr 3
artykuł
Characterization of SOI MOSFETs by means of charge-pumping, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3

Głuszko, Grzegorz Łukasiak, Lidia Gottlob, Heinrich Lemme, Max Szostak, Sławomir

2007, nr 3
artykuł
Development of Data Processing Tools for the Analysis of Radargrams in Utility Detection Using Ground Penetrating Radar, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2017, nr 3

Sagnard, Florence

2017, nr 3
artykuł
On-wafer wideband characterization: a powerful tool for improving the IC technologies, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2

Raskin, Jean-Pierre Lederer, Dimitri

2007, nr 2
artykuł
Charge-pumping characterization of SOI devices fabricated by means of wafer bonding over pre-patterned cavities, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3

Raskin, Jean-Pierre Głuszko, Grzegorz Łukasiak, Lidia Olbrechts, Benoit Kilchytska, Valeriya Flandre, Denis Chung, Tsung Ming

2007, nr 3
artykuł
Więcej
×

Cytowanie

Styl cytowania:

Dane kontaktowe

Adres

Instytut Łączności – Państwowy Instytut Badawczy ul. Szachowa 1 04-894 Warszawa

Telefon

(+48) 5128 696

E-Mail

biblioteka@il-pib.pl

Odwiedź nas!

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji